Asignaturas

1. Síntesis de materiales electrocerámicos 2. Medición de difractogramas de rayos X 3. Análisis de difractogramas de rayos X 4. Medición de constante dieléctrica 5. Determinación de arcos de impedancia 6. Utilización de equipo AFM 7. Determinación de nanoestructuras con AFM 8. Utilización de equipo STM 9. Determinación de nanoestructuras con STM

Contenido:

• Capítulo 1: La relación Procesamiento- Microestructura- Propiedades de los materiales
• Capítulo 2: Procesamiento de materiales electrocerámicos
• Capítulo 3: Caracterización de la estructura cristalina de materiales
• Capítulo 4: Caracterización dieléctrica de materiales
• Capítulo 5: Caracterización nanoestructural con AFM Capítulo 6: Caracterización nanoestructural con STM 

Bibliografía:

1. Roy W. Rice. “Ceramic Fabrication Technology". Marcel Dekker, Inc., Ney York, 2003.

2. A.J. Moulson and J.M. Herbert. "Electroceramics". Wiley, 2nd. Ed, 2005.

3. Sergei N. Magonov, Hyung-Hwan Whangbo, "Surface Analysis with STM and AFM: Experimental and Theorethical aspects of Image Analysis". Wiley 2008.